|
分析穿透式電子顯微鏡
(Analytical Electron Microscope-AEM)
 一、儀器介紹
現況：正常運作
放置地點：台大凝態中心地下室B104室
所屬級數：B級
廠牌：JEOL
型號：JEM-2000FX
Specifications:
Accelerating voltage: 80-200kV
Magnification:
MAG Mode: 1,000~850,000
Low Magnification mode: 50~1,000
Resolution: 0.25nm
Tilt angle: (X-axis) ± 45 ° (Y-axis) ± 30 °
Attachment:
Energy Dispersive X-ray (EDX) Spectrometry
High-temperature specimen holder (maximum Temp.: 1000 o C)
Low-temperature specimen holder (minimum Temp.: liquid helium)
二、申請服務及使用辦法
2-1 使用順序
本中心研究成員>台大校內學術單位>台校外學術單位>台產業界
2-2 申請方式
自行操作：向儀器相關人員提出
a. 計畫申請書
b. 操作許可認證 (見注意事項 4)，經申請後依自行操作規定辦法使用與收費。
委託操作：提出計畫申請書，經申請後依委託操作規定辦法使用與收費。
三、儀器相關人員
四、注意事項
儀器之使用以個人為申請單位，時間排定後有任何問題請於七天前電洽儀器相關人員取消，否則酌收基本費用(若預約後無故不到，且無來電通知，視同爽約，罰雙倍價錢)。
一年內累積爽約 3 次，停止預約資格 6 個月。
若委託服務時段沒有預約服務，則開放自行操作。
-
本中心會定期舉辦使用者上課受訓與實際上機操作課程(每年四次)，經本單位認證後將發給證書，並可具備有獨立操作機器的資格。(相關訊息請洽儀器負責人員)
五、樣品製備規範()
為減少儀器不必要的污染，對於檢驗樣品的限制：
-
樣品需正確乾燥，在真空中無揮發性。
-
在電子束照射下會分解或釋出氣體之樣品及有機物，高分子，粉末、混凝土材料等，因有礙真空維持恕不服務。
-
除負染色外，生物標本需經脫水、包埋及超薄切片後方可上機觀察。樣品規格為直徑3mm，厚度0.1mm，薄區或切片厚度約100nm。
-
具強磁性易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料，本中心有權拒絕服務。
-
使用者必需詳細說明試片之製作方式，若有可能造成真空腔的污染，本單位有權拒絕受理。若因處理不當而造成儀器污染或損壞時，須負責賠償並暫停儀器之使用權。若有必要，請與專家團隊事先聯繫或提早做進一步諮詢，以免造成操作不當而使得機器毀壞。
| 
