|
120kV穿透式電子顯微鏡
( Transmission Electron Microscope - TEM )
 一、儀器介紹
現況：建構中(預計95年6月對外開放)
放置地點：凝態中心地下室B105室
所屬級數：B級
負責人：周必泰 副教授
廠牌：JEOL
型號：JSM 1230
Configuration： HC-high contrast/ AB-analytical
Resolution：
HC： 0.2 nm (Lattice Image) / 0.36nm (Point Image)
AB： 0.2 nm (Lattice Image) / 0.4nm (Point Image)
Magnification：
MAG Mode： x1,000-600,000
Low MAG Mode： x50-1,000
IOS Mode： x2,500-30,000 (± 90 °)
Accelerating Voltage：40~120kV
Specimen tilt angle (X-axis): HC： ± 30 ° / AB： ± 45 °
Specimen Movements:
X Direction： 2.0mm
Y Direction： 2.0mm
X Direction： ± 0.5mm
二、申請服務及使用辦法
詳見台大奈米科技中心。
三、儀器相關人員
|
