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200kV掃描穿透式電子顯微鏡
( Field Emission Scanning Transmission Electron Microscope-FE-STEM )




一、儀器介紹

現況:正常運作 (以學術研究合作方式開放)
放置地點:凝態中心地下室B104室
所屬級數: A級 80% / C級 20%
負責人:陳正弦 研究員



廠牌:FEI
型號:Tecnai-G2-F20
HR-STEM Resolution (< 0.20 nm)
Information Limit (< 0.15 nm)
High Resolution Electron Energy Loss Spectroscopy (HR-EELS) (< 0.2 eV)
Lorentz Electron Microscopy
Electron Holography
Electron Tomography
Energy Dispersive X-ray (EDX) Spectrometry
Sample Temperature Range between 20K & 1300K


二. 管理暨使用辦法:

(一) FEI Tecnai F20 掃描穿透式電子顯微鏡 (以下簡稱 Tecnai) 隸屬於台灣大學顯微技術與奈米分析中心,在國科會及其他單位支助下,提供全國性及國際性之高階電顯專案合作研究之學術諮詢及服務。

(二) Tecnai 僅用於高階分析式電顯研究之用途 (如圖一),並以與指導單位
台大凝態科學研究中心進行學術合作為規範,不開放予一般使用者,亦不採國科會貴重儀器委託操作模式。Technai之操作,原則上由儀器專家管理人執行。



圖一、台灣大學顯微技術與奈米分析中心 Technai 分析式電顯之功能

(三) 在從事高階分析式電顯研究的最高原則下,特擬訂「台灣大學顯微技術與奈米分析中心 FEI Tecnai F20 掃描穿透式電子顯微鏡管理暨使用辦法」(以下簡稱本辦法),以充分發揮及利用Technai之功能。

(四) 高階分析式電顯研究之審定,由欲利用Technai之單位先提出兩頁A4(含圖表)的專案合作研究計畫申請,再由依本辦法成立之「台灣大學顯微技術與奈米分析中心電顯專業審查委員會」(以下簡稱本審查委員會)核可後,方可交由儀器專家管理人與欲利用之單位細部討論,規劃使用時間,並逕行執行。本專案合作研究計畫之申請採隨到隨審制,無申請對象之差別,以年度或學期規劃之申請案尤佳。

(五) 專案計畫申請運作流程如圖二所示,不以校內外申請對象或專案計畫書送抵本審查委員會之時序來決定執行合作案之先後順序,一律以申請案的學術重要性規劃之。本審查委員會據呈報審查結果予台大顯微技術與奈米分析中心管理委員會之義務,並由該委員會進一步評估審查未通過之案件是否應酌予以再審查,以期符合台灣大學顯微技術與奈米分析中心公平、開放之基本原則。



圖二、台灣大學顯微技術與奈米分析中心 Technai 專案合作計畫申請運作流程


(六) 本審查委員會保留控管合作案學術成果品質之權利,使用單位不得在未經本審查委員會同意下逕自公開利用Technai獲得之學術成果。

(七) 為避免申請案過多,導致審定時程曠日耗時,本審查委員會提供於正式申請專案合作前之專業諮詢,鼓勵欲申請單位多加利用此服務。




三. 台灣大學顯微技術與奈米分析中心電顯專業審查委員會:

陳正弦 (召集人,台灣大學凝態科學研究中心)
林麗瓊 (台灣大學凝態科學研究中心)
朱明文 (台灣大學凝態科學研究中心)
方俊民 (台灣大學化學系)
牟中原 (台灣大學化學系)
陳永芳 (台灣大學物理系)
趙治宇 (台灣大學物理系)




四. Technai 儀器專家管理人:

朱明文 (副研究員,台灣大學凝態科學研究中心)
Office:凝態物理館1123室
TEL:+886-2-33665295
E-mail:
chumingwen@ntu.edu.tw

劉思謙 (博士後研究,台灣大學凝態科學研究中心)
Office:凝態物理館1112室
TEL:+886-2-33665210
E-mail: scliou0903@ntu.edu.tw


五. Technai 專業技術人才培訓與國際交流合作:

在人才培訓方面,本審查委員會將視欲使用單位之合作案執行所需時程及專業程度,酌予以訓練欲使用單位人員操作Tecnai之相關專業知識,以期深耕國內於相關領域之學士厚度。惟欲學習Technai之單位人員須具備兩年(含)以上之電顯操作經驗、基本的晶體學知識及解釋電子繞射圖形與高解析度晶體影像之能力。本審查委員會亦規劃特聘電顯專家及相關專業技術人員進行經常性授課,以提供永續的人才培訓工作(如一般講習、各項儀器操作實務乃至專業進階課程)。

在國際交流合作方面,將視顯微技術發展之需求及經費狀況,選派優秀研究人員赴國外交流觀摩,並邀請國外傑出學者蒞臨本顯微技術與奈米分析中心參觀指導。





 
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