儀器

儀器分級說明

• 以合作研究方式共用

• 學術重要性為考量因素但公佈申請者及使用者

• 必須在專業技術員或專家指導下進行

• 服務各型計畫使用

• 使用者可以經短期訓練後操作

• 不開放使用

• 專注於研發或提升特殊設備之功能

• 人員專業性與設備獨一性之功能

現有儀器

球像差修正掃描穿透式電子顯微鏡 (Cs Corrector + JEOL 2100F STEM)

200kV場發射掃描穿透式電子顯微鏡 (Field Emission Scanning Transmission Electron Microscope-FE-STEM)

分析穿透式電子顯微鏡 (Analytical Electron Microscope-AEM)

120kV穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope – TEM)

場發射掃描式電子顯微鏡 (Field Emission- Scanning Electron Microscope- FE-SEM)

原子力顯微鏡 (Atomic Force Microscope – AFM)